Якість і безпека: сучасні реалії
Домашня сторінка
Про нас
Увійти
Реєстрація/Профіль
Пошук
Домашня сторінка
>
Пошук
>
Автор детально
Автор детально
Жагловська, Олена Миколаївна, <span>Кандидат технічних наук, старший викладач кафедри електроніки та наносистем. Вінницький національний технічний університет</span>, Україна
XLVII Науково-технічна конференція факультету інфокомунікацій, радіоелектроніки та наносистем (2018)
- Секція електроніки і наносистем
ВИМІРЮВАЧ РІВНЯ РІДИНИ З ЧАСТОТНИМ ВИХОДОМ НА ОСНОВІ ЄМНІСНОГО ЧУТЛИВОГО ЕЛЕМЕНТА
Анотація
PDF
ЦЯ КОНФЕРЕНЦІЯ ВИКОРИСТОВУЄ ВЛАСНУ СИСТЕМУ КЕРУВАННЯ І ПОДАННЯ ДОПОВІДЕЙ. ПЕРЕЙТИ НА
САЙТ КОНФЕРЕНЦІЇ
Повернутися на
Сайт конференцій ВНТУ