Анотація. Проаналізовано застосування матриць Джонса та Мюллера для дослідження оптичних характеристик зразків. Показано, що використання матриць Джонса та Мюллера дозволяє отримати повну інформацію про поляризаційні властивості матеріалів та їх зміни під впливом зовнішніх факторів.